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Poids de l’Open access dans la production CNRS

Titre
Effect of passivation annealing on the electromigration properties of hybrid bonding stack
BSO - Titre
Effect of passivation annealing on the electromigration properties of hybrid bonding stack
DOI
DOAI
Identifiant WoS
WOS:000416068500126
Accès ouvert
OA - Non
Source - Accès ouvert
OA - Non
Type d'accès
Non OA
Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS)

ISSN
1541-7026
Type de document
  • Meeting Abstract
Notoriété
0 - Sans notoriété
CNRS
Oui
CNRS - Institut
  • INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
uid:/SQBF65G1
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